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原位電鏡領域的技術先鋒

更新時間:2022-10-25      點擊次數:1774

Create World-Leading In-Situ Electron Microscopy Solutions

 

公司簡介

CHIPNOVA(超新芯)是早期原位芯片技術開發研究者、國家高層次引進人才創辦的高科技企業,致力于為客戶提供全面的原位表征方案,并將相關技術應用服務于民用領域。CHIPNOVA擁有MEMS芯片制造和原位電鏡方面的資深團隊,10余年來產品和技術不斷迭代提升,目前已涉及原位芯片、生化醫療芯片、集成傳感芯片等。其中原位芯片在材料、催化、能源、環境、化學、生物等領域廣泛應用,相關成果發表在Science、Nature子刊等SCI期刊上,服務包括北大、浙大等眾多高校和科研單位,推動了相關領域的科技進步。

 

一、Spring Series In-Situ Holders(透射電鏡液體光熱電原位系統)

Spring Series In-Situ Holders(透射電鏡液體光熱電原位系統)是在原位樣品臺內部構建小型的液體環境芯片實驗室,在液體環境內對材料進行原子分辨高時空精度分析。根據客戶需求,結合MEMS微加工工藝,內置加熱模塊、光學模塊和電學模塊,結合透射電鏡成像系統,實現對單個納米材料在熱、光、電外場刺激條件下的形貌結構、化學組分、元素價態的原位動態觀測,極大擴展了透射電鏡的功能與應用領域。

圖1 TEM液體多功能集成樣品桿示意圖.jpg

圖1 Spring Series In-Situ Holders(透射電鏡液體光熱電原位系統)示意圖

 

Spring Series In-Situ Holders(透射電鏡液體光熱電原位系統)可在透射電鏡中實現液體樣品的電化學反應/加熱過程/光學反應過程的實時動態高分辨成像。

 

 

 

 

 

 

 

應用案例:

 

 

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圖2

Structure and composition analysis of Sn@SnOx nanocrystals synthesized by thermal deposition. a Low- and b high-magnification TEM images and c HAADF-STEM image of the Sn-SnOx core-shell structure and corresponding elemental mapping of Sn (green) and O (red).

Peng, X., Zhu, FC., Jiang, YH. et al. Identification of a quasi-liquid phase at solid–liquid interface.Nat Commun 13,3601 (2022).

 

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圖3

 

The in situ observation of layer growth dynamics of InCl3.3H2O ultrathin nanosheets. Sequential TEM images of A) the nucleate growth of a single layer, C) the enation growth of a single layer, E) the enation growth of two layers, B,D) the corresponding statistics of the length of growth layer in (A,C) as a function of time, and F) statistics of the angle of enation growth layer in (E) as a function of time, respectively.

Zhang J, Jiang Y, Fan Q, et al. Atomic Scale Tracking of Single Layer Oxide Formation: Self‐Peeling and Phase Transition in Solution[J]. Small Methods, 2021, 5(7): 2001234.

 

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圖4

In situ TEM observation of the structural changes of hydrogen evolution active sites under different illumination time.

In situ liquid optics chip: 20 nm silicon nitride.HRTEM images of Cu2O samples with different irradiated time: (a) 1 h, (b) 2 h, (c) 3 h, and schematic diagrams of (d) Cu2O structure change under irradiation.

 

Yu, et al., Appl. Catal., B 284 (2021) 119743.

 

 

 


 

圖5/圖6  流體流動及擴散對晶體生長形貌影響觀察

Efficient CO2 reduction MOFs derivatives transformation mechanism revealed by in-situ liquid phase TEM[J]. Applied Catalysis B: Environmental, 2022, 307: 121164.



圖7/圖8 光照下環境氛圍對納米團簇演變過程影響

Visualizing light-induced dynamic structural transformations of Au clusters-based photocatalyst via in situ TEM[J]. Nano Research, 2021, 14(8): 2805-2809.


 

 

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圖9

 

In situ atomic resolution HRTEM observation on the behaviors of sulfobetaine molecules at the solid-liquid interface under external electric field and the formation of the waterproof layer around the negative electrode surface.

Controlling Interfacial Structural Evolution in Aqueous Electrolyte via Anti-Electrolytic Zwitterionic Waterproofing. Adv. Funct. Mater. 2022, 2207140.  

DOI: 10.1002/adfm.202207140

圖10/ 圖11

HAADF-STEM images and EDS mapping of the porous carbon electrodes with different charging conditions. and the HRTEM images showing the self-aggregation of sulfobetaine in the bulk liquid phase.

Controlling Interfacial Structural Evolution in Aqueous Electrolyte via Anti-Electrolytic Zwitterionic Waterproofing. Adv. Funct. Mater. 2022, 2207140.  

DOI: 10.1002/adfm.202207140


 

 

二、Volcano Series In-Situ Holders(透射電鏡雙傾光熱電原位系統)

Volcano Series In-Situ Holders(透射電鏡雙傾光熱電原位系統)針對快速變溫過程原位高分辨研究需求構建的原位觀察平臺,根據客戶需求結合MEMS微加工工藝內置加熱模塊、電學模塊和光學模塊,通過對樣品的外場控制完成熱學、電學及光學性質的研究。

ChipNova Volcano Series In-Situ Holders(透射電鏡雙傾光熱電原位系統),同時涵蓋原位雙傾功能模塊、光學功能模塊、電學功能模塊、加熱功能模塊,可在透射電鏡中實現固體樣品微結構變化的原位表征。在原位雙傾轉角功能的基礎上,通過開創性的將光作為外部條件搭載在原位樣品臺系統上,結合MEMS微納加工制作的超低飄移微區加熱芯片,實現全新的雙傾-光-電-熱四功能耦合,在操作α/β角度轉動的同時,可同時引入光場刺激、電場刺激、熱場刺激,各功能模塊可同時在線工作并且相互獨立,互不干擾。

圖 TEM多功能雙傾樣品桿示意圖.jpg

 

 

圖12 Volcano Series In-Situ Holders(透射電鏡雙傾光熱電原位系統)

 

 

 

 

應用案例:

應用案例2.jpg

圖13 1300℃恒溫,金屬合金擴散,芯片溫度穩定性好,漂移率低

應用案例3.jpg

圖14 室溫-1000℃變溫過程MOF材料碳化研究


 

三、Gravity Series In-Situ Holders(透射電鏡高溫力學原位系統)

廈門超新芯科技有限公司所研發生產的Gravity Series In-Situ Holders(透射電鏡高溫力學原位系統)是通過在原位樣品桿內置力學測量模塊、三維納米運動模塊、原位加熱芯片,可對材料進行應力及熱場條件下原子分辨高時空分析。通過該系統,在透射電鏡中通過納米探針或者原位芯片對樣品進行操縱和拉應力、壓應力測量。并且在測量樣品壓力同時實現對樣品1000℃的加熱,在高溫力學測量的同時,能夠動態、高分辨地對樣品的晶體結構、組分進行綜合表征。

具備的功能包括:原位壓縮微納試樣進行應力應變曲線監測;原位拉伸微納試樣進行應力應變曲線監測;具有超高精度和靈敏度的力學參數和應變量測試能力,能準確得到定量的載荷和位移的數據,且具有*的穩定性。特色功能:恒定載荷控制功能,以適用于材料的蠕變特性研究;恒定位移控制功能,以適用于材料的應力松弛的研究。

 

圖 原位TEM力學樣品桿示意圖.jpg

 

 

圖15  Gravity Series In-Situ Holders(透射電鏡高溫力學原位系統)示意圖

 

 

 

 

應用案例:


應用案例4.jpg 

圖16/圖17納米碳球壓縮原位力學實驗


鎢納米棒原位壓縮過程.png

圖18 鎢納米棒原位壓縮過程

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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