透射電鏡力電原位系統通過MEMS(微機電系統)芯片在原位樣品臺內構建力、電復合多場自動控制及反饋測量系統。該系統結合了多種透射電鏡(TEM)的分析模式，以實現對樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化的實時監測，能夠為研究納米尺度材料及器件提供電學性能分析支撐。

　　透射電鏡力電原位系統的應用如下：

　　1.材料科學：用于研究材料的晶體結構、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相變和相互作用。這對于新材料的開發與性能優化具有重要意義。

　　2.納米科學與納米技術：對于納米材料的結構和行為研究具有關鍵作用，能夠揭示納米材料的特殊性質和潛在應用。

　　3.能源研究：在電池材料、催化劑等能源材料的研究中，該系統可用于觀察電極和電解質的相互作用，以及材料的性能和壽命變化。

　　4.生物科學：雖然透射電鏡在生物科學中的應用相對較少，但力電原位系統為觀察生物樣品中的細胞結構、蛋白質等生物分子的形貌和組成提供了新的可能性。

　　該系統可實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場、施加力變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。